PEEK、拡散画像生成のサンプリング時の誤りを低減

研究者らは、拡散画像生成モデル向けの学習不要プラグイン「PEEK」を発表した。選択したサンプリングステップでデノイザーの評価を追加で行い、その先読み予測を使って次のステップを調整することで、露出バイアスを低減する。露出バイアスとは、学習時にモデルへ与えられる入力と、生成時にモデルが実際に受け取る不完全な入力とのずれを指す。

著者らによると、テキスト条件付きの構成を含む、ピクセル空間および潜在空間の8種類のモデルで、デノイザーの評価回数をそろえたベースラインより性能が向上した。FIDの改善幅は最大49.3%に達したという。また、実験ではモデルごとのプラグインのキャリブレーションにかかった時間は最長でも2.2分だった。